首页
我们
应用
半导体&电子元器件
表面质控
催化剂
电化学评价与质控
电池能源
表界面方法应用
电化学方法应用
光谱技术应用
高分子材料
表面科学方法应用
金属与矿物
表征形貌
涂层与防护
产品
品牌分类
AMETEK
单通道
多通道
双通道
微区
阻抗分析仪
Bruker
X射线衍射仪
高分辨X射线三维显微系统
纳米红外测试系统
纳米压痕仪
原子力显微镜
HORIBA
表面等离子体共振成像系统
辉光光谱仪
拉曼光谱仪
粒度及Zeat电位分析仪
椭圆偏振光谱仪
荧光光谱仪
IKA
分离
粉碎
混合
加热温控
热量测量
实验室反应器
移液器
粘度测量
Jeol
电子显微镜配套设备
扫描电子显微镜
台式扫描电子显微镜
透射电子显微镜
KRUSS
Micromeritics
化学吸附仪
粒度及流变分析仪
密度分析仪
物理吸附仪
PRESI
切割
镶嵌
研磨抛光
硬度成像
Thermofisher
红外光谱测试系统
仪器分类
X射线仪器
X射线衍射仪
高分辨X射线三维显微系统
表界面物性测试
表面张力仪
化学吸附仪
接触角测量仪
密度分析仪
纳米压痕仪
泡沫分析仪
物理吸附仪
电化学仪器
单通道电化学工作站
多通道电化学工作站
双通道电化学工作站
微区扫描电化学测试系统
阻抗分析仪
电镜及配套设备
电子显微镜配套设备
扫描电子显微镜
透射电子显微镜
粉末颗粒分析仪器
粒度及Zeat电位分析仪
粘度及流变分析仪
光谱分析仪器
表面等离子体共振成像系统
红外光谱测试系统
辉光光谱仪
拉曼光谱仪
纳米红外测试系统
椭圆偏
荧光光谱仪
实验室前处理设备
分离
粉碎
混合
加热温控
金相前处理
热量测量
实验室反应釜
移液器
元素分析仪器
新闻
服务
安装与培训
使用与保养
仪器搬家服务
联系
主页
品牌分类
AMETEK
单通道
多通道
双通道
微区
阻抗分析仪
Bruker
X射线衍射仪
高分辨X射线三维显微系统
纳米红外测试系统
纳米压痕仪
原子力显微镜
HORIBA
表面等离子体共振成像系统
辉光光谱仪
拉曼光谱仪
粒度及Zeat电位分析仪
椭圆偏振光谱仪
荧光光谱仪
IKA
分离
粉碎
混合
加热温控
热量测量
实验室反应器
移液器
粘度测量
Jeol
电子显微镜配套设备
扫描电子显微镜
台式扫描电子显微镜
透射电子显微镜
KRUSS
Micromeritics
化学吸附仪
粒度及流变分析仪
密度分析仪
物理吸附仪
PRESI
切割
镶嵌
研磨抛光
硬度成像
Thermofisher
红外光谱测试系统
阻抗增益—相位分析仪-1260A
微区扫描电化学工作站-VersaSCAN
双通道电化学工作站-PARSTAT 3000A-DX
电化学工作站-PARSTAT MC
电化学工作站-1470E CellTest
电池评估系统-SI-9300R
光电化学测试系统-Modulab XM PhotoEchem
电化学工作站-VersaSTAT 4
电化学工作站-VersaSTAT 3F
电化学工作站-VersaSTAT 3
电化学工作站-PARSTAT 4000A
电化学工作站-PARSTAT 3000A
1
2
立即咨询
电话
400-005-0121
微信二维码
TOP
